X荧光光谱仪

X荧光元素录井分析仪EDX5500H

X荧光元素录井分析仪EDX5500H

将X射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于:通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性,再通过岩性的组合特征分析来判断层位,因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。

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手持式镀层厚度分析仪EXPLORER5000T

手持式镀层厚度分析仪EXPLORER5000T

EXPLORER 5000T手持式XRF镀层厚度分析仪是使用全新大屏高分辨率液晶显示屏及新型数字多道数据处理器的便携式手持镀层测厚分析仪。EXPLORER 5000T可对大面积镀层产品进行膜厚分析,仪器不仅体积小、重量轻,可随身携带进行测量;而且性能很好,堪比台式机。

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X射线荧光镀层测厚仪EDX600PLUS

X射线荧光镀层测厚仪EDX600PLUS

EDX 600 PLUS是专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行精准检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。

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飞行时间质谱系统microTyper MS

飞行时间质谱系统microTyper MS

利用基质辅助激光解吸电离方法得到待测样品分子离子,通过测得待测微生物的肤质量指纹圈谱(PMF),并将其与数据库中的徽生物标准指纹图谱进行匹配检索,从而完成鉴定(可鉴定至种或属)。

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